Applications and Metrology at Nanometer Scale 1

...Нажми для увеличения фото
18 372 ₽Скидка: 15%

15 601 ₽

Товар в наличии
  Узнать о снижении стоимости
Отправим письмо при снижении стоимости.

Рекомендательный сервис

  • Общий рейтинг 4.08
  • Рейтинг покупателей 4.87
  • Рейтинг экспертов 4.00
  • Качество материалов 4.83
  • Надежность 4.00
  • Простота в использовании 4.30
  • Ремонтопригодность 4.76
  • Эффективность выполнения своих функций 4.78
  • Коэффициент удивления "Вау!" 4.08
  • Безопасность для пользователя4.70
  • Внешний вид 4.60
  • Удобство в уходе и чистке 4.37
  • Экологическая безопасность 4.00
  • Гарантия на товар 4.33
  • Соответствие стандартам качества 4.00
  • Инновационные технологии 4.30
  • Хит продаж 4.08
  • Скорость морального устаревания 4.87
  • Энергоэффективность 4.70
  • Универсальность использования 4.89
  • Наличие дополнительных функций 4.30
  • Соотношение цена-качество 4.03
  • Практичность и удобство хранения 4.80
  • Стабильность работы в различных условиях 4.07
  • Возможность персонализации 4.09
  • Ликвидность 4.70
  • Индекс рекомендаций 4.33
2816 покупателей и эксперты портала 1ya.ru рекомендуют к покупке товар «Applications and Metrology at Nanometer Scale 1» или его аналог из списка ниже.
To develop innovations in quantum engineering and nanosystems, designers need to adopt the expertise that has been developed in research laboratories. This requires a thorough understanding of the experimental measurement techniques and theoretical models, based on the principles of quantum mechanics.

This book presents experimental methods enabling the development and characterization of materials at the nanometer scale, based on practical engineering cases, such as 5G and the interference of polarized light when applied for electromagnetic waves. Using the example of electromechanical, multi-physical coupling in piezoelectric systems, smart materials technology is discussed, with an emphasis on scale reduction and mechanical engineering applications.

Statistical analysis methods are presented in terms of their usefulness in systems engineering for experimentation, characterization or design, since safety factors and the most advanced reliability calculation techniques are included from the outset. This book provides valuable support for teachers and researchers but is also intended for engineering students, working engineers and Master's students.

Информация о характеристиках, комплекте поставки, стране изготовления, внешнем виде и цвете товара носит справочный характер и взятая из открытых источников или размещена продавцом. Цена указана на дату: 09.05.2025 г. На текущий момент стоимость может отличаться. Предложение не является публичной офертой.
Applications and Metrology at Nanometer Scale 1 продается в интернет-магазине ЛитРес
Эксперт: Ростислав Т., специалист по потребительским товарам
Дата рецензии: 19 июля 2025 года
Рекомендация к покупке положительная

Кредитный калькулятор

Планируете купить "Applications and Metrology at Nanometer Scale 1" в кредит? Расширенный кредитный калькулятор поможет онлайн рассчитать ежемесячный платеж, начисленные проценты и сумму переплаты по потребительскому кредиту.

Доставка покупки

    • В электронном виде;
    • Читать онлайн;
    • Скачать на компьютер или мобильные устройства.

Оплата заказа

    • Банковской картой;
    • электронными деньгами Яндекс-Деньги; WebMoney, Qiwi Кошелек, PayPal;
    • Наличными через терминалы;
    • Банковским переводом.
  • Наименование: ООО «ЛитРес»
  • ИНН: 7719571260

Рекомендуем аналогичные товары

Дополнительно из категории