Отзывы на "Secondary Ion Mass Spectrometry"

...
  • Рейтинг:
Serves as a practical reference for those involved in Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) • Introduces SIMS along with the highly diverse fields (Chemistry, Physics, Geology and Biology) to it is applied using up to date illustrations • Introduces the accepted fundamentals and pertinent models associated with elemental and molecular sputtering and ion emission • Covers the theory and modes of operation of the instrumentation used in the various forms of SIMS (Static vs Dynamic vs Cluster ion SIMS) • Details how data collection/processing can be carried out, with an emphasis placed on how to recognize and avoid commonly occurring analysis induced distortions • Presented as concisely as believed possible with All sections prepared such that they can be read independently of each other
Спасибо Ваш отзыв будет опубликован после проверки модераторами.
Написать отзыв
  • Общий рейтинг 4.79
  • Рейтинг покупателей 4.97
  • Рейтинг экспертов 4.77
  • Качество материалов 4.90
  • Надежность 4.77
  • Простота в использовании 4.07
  • Ремонтопригодность 4.34
  • Эффективность выполнения своих функций 4.39
  • Коэффициент удивления "Вау!" 4.79
  • Безопасность для пользователя4.77
  • Внешний вид 4.47
  • Удобство в уходе и чистке 4.03
  • Экологическая безопасность 4.70
  • Гарантия на товар 4.00
  • Соответствие стандартам качества 4.77
  • Инновационные технологии 4.00
  • Хит продаж 4.79
  • Скорость морального устаревания 4.93
  • Энергоэффективность 4.37
  • Универсальность использования 4.99
  • Наличие дополнительных функций 4.00
  • Соотношение цена-качество 4.70
  • Практичность и удобство хранения 4.97
  • Стабильность работы в различных условиях 4.07
  • Возможность персонализации 4.09
  • Ликвидность 4.37
  • Индекс рекомендаций 4.00
2385 покупателей и эксперты портала 1ya.ru рекомендуют к покупке товар «Secondary Ion Mass Spectrometry».