Transmission Electron Microscopy in Micro-nanoelectronics

...Нажми для увеличения фото
19 732 ₽Скидка: 21%

15 520 ₽

Товар в наличии
  Узнать о снижении стоимости
Отправим письмо при снижении стоимости.

Рекомендательный сервис

  • Общий рейтинг 4.79
  • Рейтинг покупателей 4.96
  • Рейтинг экспертов 4.57
  • Качество материалов 4.92
  • Надежность 4.77
  • Простота в использовании 4.25
  • Ремонтопригодность 4.31
  • Эффективность выполнения своих функций 4.39
  • Коэффициент удивления "Вау!" 4.79
  • Безопасность для пользователя4.67
  • Внешний вид 4.15
  • Удобство в уходе и чистке 4.23
  • Экологическая безопасность 4.50
  • Гарантия на товар 4.22
  • Соответствие стандартам качества 4.75
  • Инновационные технологии 4.20
  • Хит продаж 4.79
  • Скорость морального устаревания 4.93
  • Энергоэффективность 4.35
  • Универсальность использования 4.99
  • Наличие дополнительных функций 4.20
  • Соотношение цена-качество 4.52
  • Практичность и удобство хранения 4.97
  • Стабильность работы в различных условиях 4.06
  • Возможность персонализации 4.09
  • Ликвидность 4.37
  • Индекс рекомендаций 4.22
2366 покупателей и эксперты портала 1ya.ru рекомендуют к покупке товар «Transmission Electron Microscopy in Micro-nanoelectronics» или его аналог из списка ниже.
Today, the availability of bright and highly coherent electron sources and sensitive detectors has radically changed the type and quality of the information which can be obtained by transmission electron microscopy (TEM). TEMs are now present in large numbers not only in academia, but also in industrial research centers and fabs. This book presents in a simple and practical way the new quantitative techniques based on TEM which have recently been invented or developed to address most of the main challenging issues scientists and process engineers have to face to develop or optimize semiconductor layers and devices. Several of these techniques are based on electron holography; others take advantage of the possibility of focusing intense beams within nanoprobes. Strain measurements and mappings, dopant activation and segregation, interfacial reactions at the nanoscale, defect identification and specimen preparation by FIB are among the topics presented in this book. After a brief presentation of the underlying theory, each technique is illustrated through examples from the lab or fab.
Информация о характеристиках, комплекте поставки, стране изготовления, внешнем виде и цвете товара носит справочный характер и взятая из открытых источников или размещена продавцом. Цена указана на дату: 09.05.2025 г. На текущий момент стоимость может отличаться. Предложение не является публичной офертой.
Эксперт: Светлана М., персональный онлайн-шопер
Дата рецензии: 15 июня 2025 г.
Рекомендация к покупке положительная

Кредитный калькулятор

Планируете купить "Transmission Electron Microscopy in Micro-nanoelectronics" в кредит? Расширенный кредитный калькулятор поможет онлайн рассчитать ежемесячный платеж, начисленные проценты и сумму переплаты по потребительскому кредиту.

Доставка покупки

    • В электронном виде;
    • Читать онлайн;
    • Скачать на компьютер или мобильные устройства.

Оплата заказа

    • Банковской картой;
    • электронными деньгами Яндекс-Деньги; WebMoney, Qiwi Кошелек, PayPal;
    • Наличными через терминалы;
    • Банковским переводом.
  • Наименование: ООО «ЛитРес»
  • ИНН: 7719571260

Рекомендуем аналогичные товары

Дополнительно из категории