A Practical Guide to Optical Metrology for Thin Films

...Нажми для увеличения фото
13 194 ₽Скидка: 21%

10 377 ₽

Товар в наличии
  Узнать о снижении стоимости
Отправим письмо при снижении стоимости.

Рекомендательный сервис

  • Общий рейтинг 4.79
  • Рейтинг покупателей 4.97
  • Рейтинг экспертов 4.57
  • Качество материалов 4.91
  • Надежность 4.77
  • Простота в использовании 4.15
  • Ремонтопригодность 4.18
  • Эффективность выполнения своих функций 4.19
  • Коэффициент удивления "Вау!" 4.79
  • Безопасность для пользователя4.77
  • Внешний вид 4.85
  • Удобство в уходе и чистке 4.11
  • Экологическая безопасность 4.50
  • Гарантия на товар 4.11
  • Соответствие стандартам качества 4.75
  • Инновационные технологии 4.10
  • Хит продаж 4.79
  • Скорость морального устаревания 4.91
  • Энергоэффективность 4.15
  • Универсальность использования 4.99
  • Наличие дополнительных функций 4.10
  • Соотношение цена-качество 4.51
  • Практичность и удобство хранения 4.97
  • Стабильность работы в различных условиях 4.07
  • Возможность персонализации 4.09
  • Ликвидность 4.17
  • Индекс рекомендаций 4.11
2224 покупателей и эксперты портала 1ya.ru рекомендуют к покупке товар «A Practical Guide to Optical Metrology for Thin Films» или его аналог из списка ниже.
A one-stop, concise guide on determining and measuring thin film thickness by optical methods. This practical book covers the laws of electromagnetic radiation and interaction of light with matter, as well as the theory and practice of thickness measurement, and modern applications. In so doing, it shows the capabilities and opportunities of optical thickness determination and discusses the strengths and weaknesses of measurement devices along with their evaluation methods. Following an introduction to the topic, Chapter 2 presents the basics of the propagation of light and other electromagnetic radiation in space and matter. The main topic of this book, the determination of the thickness of a layer in a layer stack by measuring the spectral reflectance or transmittance, is treated in the following three chapters. The color of thin layers is discussed in chapter 6. Finally, in chapter 7, the author discusses several industrial applications of the layer thickness measurement, including high-reflection and anti-reflection coatings, photolithographic structuring of semiconductors, silicon on insulator, transparent conductive films, oxides and polymers, thin film photovoltaics, and heavily doped silicon. Aimed at industrial and academic researchers, engineers, developers and manufacturers involved in all areas of optical layer and thin optical film measurement and metrology, process control, real-time monitoring, and applications.
Информация о характеристиках, комплекте поставки, стране изготовления, внешнем виде и цвете товара носит справочный характер и взятая из открытых источников или размещена продавцом. Цена указана на дату: 09.05.2025 г. На текущий момент стоимость может отличаться. Предложение не является публичной офертой.
A Practical Guide to Optical Metrology for Thin Films продается в интернет-магазине ЛитРес
Эксперт: Святослав В., товарный критик
Дата рецензии: 11 июля 2025 года
Рекомендация к покупке положительная

Доставка покупки

    • В электронном виде;
    • Читать онлайн;
    • Скачать на компьютер или мобильные устройства.

Оплата заказа

    • Банковской картой;
    • электронными деньгами Яндекс-Деньги; WebMoney, Qiwi Кошелек, PayPal;
    • Наличными через терминалы;
    • Банковским переводом.
  • Наименование: ООО «ЛитРес»
  • ИНН: 7719571260

Рекомендуем аналогичные товары

Дополнительно из категории