Advanced Characterization Techniques for Thin Film Solar Cells

...
13 673 ₽Скидка: 13%

11 875 ₽

Товар в наличии
Ещё от "ЛитРес":
  Узнать о снижении стоимости
Отправим письмо при снижении стоимости.

Рекомендательный сервис

  • Общий рейтинг 4.79
  • Рейтинг покупателей 4.96
  • Рейтинг экспертов 4.77
  • Качество материалов 4.91
  • Надежность 4.77
  • Простота в использовании 4.17
  • Ремонтопригодность 4.01
  • Эффективность выполнения своих функций 4.09
  • Коэффициент удивления "Вау!" 4.79
  • Безопасность для пользователя4.67
  • Внешний вид 4.17
  • Удобство в уходе и чистке 4.10
  • Экологическая безопасность 4.70
  • Гарантия на товар 4.11
  • Соответствие стандартам качества 4.77
  • Инновационные технологии 4.10
  • Хит продаж 4.79
  • Скорость морального устаревания 4.90
  • Энергоэффективность 4.07
  • Универсальность использования 4.99
  • Наличие дополнительных функций 4.10
  • Соотношение цена-качество 4.71
  • Практичность и удобство хранения 4.97
  • Стабильность работы в различных условиях 4.06
  • Возможность персонализации 4.09
  • Ликвидность 4.07
  • Индекс рекомендаций 4.11
2060 покупателей и эксперты портала 1ya.ru рекомендуют к покупке товар «Advanced Characterization Techniques for Thin Film Solar Cells» или его аналог из списка ниже.
Written by scientists from leading institutes in Germany, USA and Spain who use these techniques as the core of their scientific work and who have a precise idea of what is relevant for photovoltaic devices, this text contains concise and comprehensive lecture-like chapters on specific research methods. They focus on emerging, specialized techniques that are new to the field of photovoltaics yet have a proven relevance. However, since new methods need to be judged according to their implications for photovoltaic devices, a clear introductory chapter describes the basic physics of thin-film solar cells and modules, providing a guide to the specific advantages that are offered by each individual method. The choice of subjects is a representative cross-section of those methods enjoying a high degree of visibility in recent scientific literature. Furthermore, they deal with specific device-related topics and include a selection of material and surface/interface analysis methods that have recently proven their relevance. Finally, simulation techniques are presented that are used for ab-initio calculations of relevant semiconductors and for device simulations in 1D and 2D. For students in physics, solid state physicists, materials scientists, PhD students in material sciences, materials institutes, semiconductor physicists, and those working in the semiconductor industry, as well as being suitable as supplementary reading in related courses.
Информация о характеристиках, комплекте поставки, стране изготовления, внешнем виде и цвете товара носит справочный характер и взятая из открытых источников или размещена продавцом. Цена указана на дату: 09.05.2025 г. На текущий момент стоимость может отличаться. Предложение не является публичной офертой.
Эксперт: Юрий Л., специалист по онлайн-шопингу
Дата рецензии: 19 июня 2025 г.
Рекомендация к покупке положительная

Отзывы о товаре

Спасибо Ваш отзыв будет опубликован после проверки модераторами.
Добавить отзыв

Доставка покупки

    • В электронном виде;
    • Читать онлайн;
    • Скачать на компьютер или мобильные устройства.

Оплата заказа

    • Банковской картой;
    • электронными деньгами Яндекс-Деньги; WebMoney, Qiwi Кошелек, PayPal;
    • Наличными через терминалы;
    • Банковским переводом.
  • Наименование: ООО «ЛитРес»
  • ИНН: 7719571260

Рекомендуем аналогичные товары

Дополнительно из категории