Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry

Cluster Secondary Ion Mass SpectrometryНажми для увеличения фото
13 941 ₽Скидка: 13%

12 107 ₽

Товар в наличии
  Узнать о снижении стоимости
Отправим письмо при снижении стоимости.

Рекомендательный сервис

  • Общий рейтинг 4.79
  • Рейтинг покупателей 4.99
  • Рейтинг экспертов 4.77
  • Качество материалов 4.91
  • Надежность 4.77
  • Простота в использовании 4.17
  • Ремонтопригодность 4.80
  • Эффективность выполнения своих функций 4.89
  • Коэффициент удивления "Вау!" 4.79
  • Безопасность для пользователя4.97
  • Внешний вид 4.07
  • Удобство в уходе и чистке 4.18
  • Экологическая безопасность 4.70
  • Гарантия на товар 4.11
  • Соответствие стандартам качества 4.77
  • Инновационные технологии 4.10
  • Хит продаж 4.79
  • Скорость морального устаревания 4.98
  • Энергоэффективность 4.87
  • Универсальность использования 4.99
  • Наличие дополнительных функций 4.10
  • Соотношение цена-качество 4.71
  • Практичность и удобство хранения 4.97
  • Стабильность работы в различных условиях 4.09
  • Возможность персонализации 4.09
  • Ликвидность 4.87
  • Индекс рекомендаций 4.11
2828 покупателей и эксперты портала 1ya.ru рекомендуют к покупке товар «Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry» или его аналог из списка ниже.
Explores the impact of the latest breakthroughs in cluster SIMS technology Cluster secondary ion mass spectrometry (SIMS) is a high spatial resolution imaging mass spectrometry technique, which can be used to characterize the three-dimensional chemical structure in complex organic and molecular systems. It works by using a cluster ion source to sputter desorb material from a solid sample surface. Prior to the advent of the cluster source, SIMS was severely limited in its ability to characterize soft samples as a result of damage from the atomic source. Molecular samples were essentially destroyed during analysis, limiting the method's sensitivity and precluding compositional depth profiling. The use of new and emerging cluster ion beam technologies has all but eliminated these limitations, enabling researchers to enter into new fields once considered unattainable by the SIMS method. With contributions from leading mass spectrometry researchers around the world, Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry: Principles and Applications describes the latest breakthroughs in instrumentation, and addresses best practices in cluster SIMS analysis. It serves as a compendium of knowledge on organic and polymeric surface and in-depth characterization using cluster ion beams. It covers topics ranging from the fundamentals and theory of cluster SIMS, to the important chemistries behind the success of the technique, as well as the wide-ranging applications of the technology. Examples of subjects covered include: Cluster SIMS theory and modeling Cluster ion source types and performance expectations Cluster ion beams for surface analysis experiments Molecular depth profiling and 3-D analysis with cluster ion beams Specialty applications ranging from biological samples analysis to semiconductors/metals analysis Future challenges and prospects for cluster SIMS This book is intended to benefit any scientist, ranging from beginning to advanced in level, with plenty of figures to help better understand complex concepts and processes. In addition, each chapter ends with a detailed reference set to the primary literature, facilitating further research into individual topics where desired. Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry: Principles and Applications is a must-have read for any researcher in the surface analysis and/or imaging mass spectrometry fields.
Информация о характеристиках, комплекте поставки, стране изготовления, внешнем виде и цвете товара носит справочный характер и взятая из открытых источников или размещена продавцом. Цена указана на дату: 09.05.2025 г. На текущий момент стоимость может отличаться. Предложение не является публичной офертой.
Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry продается в интернет-магазине ЛитРес
Эксперт: Сергей К., специалист по e-commerce
Дата рецензии: 30 августа 2025 года
Рекомендация к покупке положительная

Кредитный калькулятор

Планируете купить "Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry" в кредит? Расширенный кредитный калькулятор поможет онлайн рассчитать ежемесячный платеж, начисленные проценты и сумму переплаты по потребительскому кредиту.

Доставка покупки

    • В электронном виде;
    • Читать онлайн;
    • Скачать на компьютер или мобильные устройства.

Оплата заказа

    • Банковской картой;
    • электронными деньгами Яндекс-Деньги; WebMoney, Qiwi Кошелек, PayPal;
    • Наличными через терминалы;
    • Банковским переводом.
  • Наименование: ООО «ЛитРес»
  • ИНН: 7719571260

Часто задаваемые вопросы

Для покупки нажмите Купить, перейдите в интернет-магазин "ЛитРес", добавьте товары в корзину и оформите заказ.
Оплатить покупку возможно банковскими картами, банковским переводом, наличными при получении. Перечень всех способов оплаты доступен при оформлении заказа.
Заказ может быть доставлен курьерской службой, транспортными компаниями, Почтой России. Возможен самовывоз из пунктов выдачи и постаматов. Способ доставки выбирается при оформлении заказа.
Сроки доставки зависят от региона. Обычно это от 1 до 7 рабочих дней. Транспортировка в отдаленные регионы или позиций "под заказ" может достигать до 1 месяца. Точную информацию можно уточнить в карточке товара или у менеджера.
Да, в соответствии с законом «О защите прав потребителя» вы можете вернуть товар в течение 14 дней, если он не был в употреблении и сохранена упаковка.
Да, на большинство товаров предоставляется гарантия от производителя. Срок гарантии указан в описании товара.

Рекомендуем аналогичные товары

Дополнительно из категории