ESD Testing. From Components to Systems

...Нажми для увеличения фото
12 451 ₽Скидка: 13%

10 814 ₽

Товар в наличии
  Узнать о снижении стоимости
Отправим письмо при снижении стоимости.

Рекомендательный сервис

  • Общий рейтинг 4.79
  • Рейтинг покупателей 4.96
  • Рейтинг экспертов 4.57
  • Качество материалов 4.93
  • Надежность 4.77
  • Простота в использовании 4.35
  • Ремонтопригодность 4.50
  • Эффективность выполнения своих функций 4.59
  • Коэффициент удивления "Вау!" 4.79
  • Безопасность для пользователя4.67
  • Внешний вид 4.05
  • Удобство в уходе и чистке 4.35
  • Экологическая безопасность 4.50
  • Гарантия на товар 4.33
  • Соответствие стандартам качества 4.75
  • Инновационные технологии 4.30
  • Хит продаж 4.79
  • Скорость морального устаревания 4.95
  • Энергоэффективность 4.55
  • Универсальность использования 4.99
  • Наличие дополнительных функций 4.30
  • Соотношение цена-качество 4.53
  • Практичность и удобство хранения 4.97
  • Стабильность работы в различных условиях 4.06
  • Возможность персонализации 4.09
  • Ликвидность 4.57
  • Индекс рекомендаций 4.33
2552 покупателей и эксперты портала 1ya.ru рекомендуют к покупке товар «ESD Testing. From Components to Systems» или его аналог из списка ниже.
With the evolution of semiconductor technology and global diversification of the semiconductor business, testing of semiconductor devices to systems for electrostatic discharge (ESD) and electrical overstress (EOS) has increased in importance. ESD Testing: From Components to Systems updates the reader in the new tests, test models, and techniques in the characterization of semiconductor components for ESD, EOS, and latchup. Key features: Provides understanding and knowledge of ESD models and specifications including human body model (HBM), machine model (MM), charged device model (CDM), charged board model (CBM), cable discharge events (CDE), human metal model (HMM), IEC 61000-4-2 and IEC 61000-4-5. Discusses new testing methodologies such as transmission line pulse (TLP), to very fast transmission line pulse (VF-TLP), and future methods of long pulse TLP, to ultra-fast TLP (UF-TLP). Describes both conventional testing and new testing techniques for both chip and system level evaluation. Addresses EOS testing, electromagnetic compatibility (EMC) scanning, to current reconstruction methods. Discusses latchup characterization and testing methodologies for evaluation of semiconductor technology to product testing. ESD Testing: From Components to Systems is part of the authors’ series of books on electrostatic discharge (ESD) protection; this book will be an invaluable reference for the professional semiconductor chip and system-level ESD and EOS test engineer. Semiconductor device and process development, circuit designers, quality, reliability and failure analysis engineers will also find it an essential reference. In addition, its academic treatment will appeal to both senior and graduate students with interests in semiconductor process, device physics, semiconductor testing and experimental work.
Информация о характеристиках, комплекте поставки, стране изготовления, внешнем виде и цвете товара носит справочный характер и взятая из открытых источников или размещена продавцом. Цена указана на дату: 09.05.2025 г. На текущий момент стоимость может отличаться. Предложение не является публичной офертой.
Эксперт: Ростислав Т., специалист по потребительским товарам
Дата рецензии: 15 июня 2025 г.
Рекомендация к покупке положительная

Доставка покупки

    • В электронном виде;
    • Читать онлайн;
    • Скачать на компьютер или мобильные устройства.

Оплата заказа

    • Банковской картой;
    • электронными деньгами Яндекс-Деньги; WebMoney, Qiwi Кошелек, PayPal;
    • Наличными через терминалы;
    • Банковским переводом.
  • Наименование: ООО «ЛитРес»
  • ИНН: 7719571260

Рекомендуем аналогичные товары

Дополнительно из категории