Exploring Scanning Probe Microscopy with MATHEMATICA

...Нажми для увеличения фото
34 173 ₽Скидка: 21%

26 878 ₽

Товар в наличии
  Узнать о снижении стоимости
Отправим письмо при снижении стоимости.

Рекомендательный сервис

  • Общий рейтинг 4.00
  • Рейтинг покупателей 4.06
  • Рейтинг экспертов 4.30
  • Качество материалов 4.07
  • Надежность 4.00
  • Простота в использовании 4.73
  • Ремонтопригодность 4.27
  • Эффективность выполнения своих функций 4.20
  • Коэффициент удивления "Вау!" 4.00
  • Безопасность для пользователя4.60
  • Внешний вид 4.73
  • Удобство в уходе и чистке 4.72
  • Экологическая безопасность 4.30
  • Гарантия на товар 4.77
  • Соответствие стандартам качества 4.03
  • Инновационные технологии 4.70
  • Хит продаж 4.00
  • Скорость морального устаревания 4.02
  • Энергоэффективность 4.23
  • Универсальность использования 4.09
  • Наличие дополнительных функций 4.70
  • Соотношение цена-качество 4.37
  • Практичность и удобство хранения 4.00
  • Стабильность работы в различных условиях 4.06
  • Возможность персонализации 4.09
  • Ликвидность 4.20
  • Индекс рекомендаций 4.77
2320 покупателей и эксперты портала 1ya.ru рекомендуют к покупке товар «Exploring Scanning Probe Microscopy with MATHEMATICA» или его аналог из списка ниже.
This new and completely updated edition features not only an accompanying CD-ROM, but also a new applications section, reflecting the many breakthroughs in the field over the last few years. It provides a complete set of computational models that describe the physical phenomena associated with scanning tunneling microscopy, atomic force microscopy, and related technologies. The result is both a solid professional reference and an advanced-level text, beginning with the basics and moving on to the latest techniques, experiments, and theory. In the section devoted to atomic force microscopy, the author describes the mechanical properties of cantilevers, atomic force microscope tip-sample interactions, and cantilever vibration characteristics. This is followed by an in-depth treatment of theoretical and practical aspects of tunneling phenomena, including metal-insulator-metal tunneling and Fowler-Nordheim field emission. The final section features applications, dealing with, among others, Kelvin and Raman probe microscopy. The self-contained presentation spares researchers valuable time spent hunting through the technical literature for the theoretical results required to understand the models presented. The Mathematica code for all the examples is included in the CD-ROM, affording the freedom to change the values and parameters of specific problems as desired, or even modify the programs themselves to suit various modeling needs.
Информация о характеристиках, комплекте поставки, стране изготовления, внешнем виде и цвете товара носит справочный характер и взятая из открытых источников или размещена продавцом. Цена указана на дату: 09.05.2025 г. На текущий момент стоимость может отличаться. Предложение не является публичной офертой.
Эксперт: Юрий Л., специалист по онлайн-шопингу
Дата рецензии: 19 июня 2025 г.
Рекомендация к покупке положительная

Кредитный калькулятор

Планируете купить "Exploring Scanning Probe Microscopy with MATHEMATICA" в кредит? Расширенный кредитный калькулятор поможет онлайн рассчитать ежемесячный платеж, начисленные проценты и сумму переплаты по потребительскому кредиту.

Доставка покупки

    • В электронном виде;
    • Читать онлайн;
    • Скачать на компьютер или мобильные устройства.

Оплата заказа

    • Банковской картой;
    • электронными деньгами Яндекс-Деньги; WebMoney, Qiwi Кошелек, PayPal;
    • Наличными через терминалы;
    • Банковским переводом.
  • Наименование: ООО «ЛитРес»
  • ИНН: 7719571260

Рекомендуем аналогичные товары

Дополнительно из категории